UNIST, 태양전지 박막 진단 X선 기술 개발
UNIST 김동석·신태주·김진영 교수팀은 대면적 페로브스카이트 박막의 구조를 손상 없이 분석하는 2차원 X선 회절 매핑 기술을 개발했다고 밝혔습니다.
이 기술은 차세대 전지로 주목받고 있는 페로브스카이트 태양전지의 결정 배열을 X선으로 한눈에 볼 수 있는 것입니다.
이에 따라 태양전지 박막의 품질을 비파괴 방식으로 확인해 제조공정 최적화와 품질 관리에 활용할 수 있을 것으로 기대됩니다.
-2026/08/19 윤주웅 기자
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